Yüksek Hassasiyetli Artı Şeklinde Çatallanma Çizgileri Retikülü

Artı kılı retikülü (artıkıl), yüksek hassasiyetli bir optik elemandır. Yüksek kaliteli optik camı alt tabaka olarak kullanır ve yüzeyine bir artı ile belirli dallanma desenleri içeren çizgiler işlemek için ultra hassas fotolitografi veya vakumlu kaplama teknolojisinden yararlanır. Artı kılı retikülleri; yüksek hassasiyetli görsel hizalama, merkezleme ve optik koordinat referansı elde etmek amacıyla genellikle optik aletlerin optik yoluna (örneğin bir mikroskop okülerinin gerçek görüntü düzlemine, bir nişangaha veya bir kolimatöre) monte edilir.

1. Ürün Özellikleri

(1) Yüksek Hassasiyet ve Yüksek Çözünürlük: Çizgiler son derece ince, düz ve keskin kenarlara sahip olup yüksek büyütmeli optik sistemlerin ve zorlu mikroskobik ölçümlerin hizalama gereksinimlerini karşılar.

(2) Optik Konfokal Performansı: Bir mikroskobun veya teleskobun gerçek görüntü düzlemine takıldığında retikül, ölçülen nesnenin görüntüsüyle mükemmel bir eşzamanlı odaklama sağlayarak paralaksı ortadan kaldırır.

(3) Mükemmel Işık Geçirgenliği ve Görüntüleme Performansı: Yüksek saflıkta optik cam alt tabaka kullanılarak yüksek ışık geçirgenliğine sahiptir ve orijinal optik yol sisteminde hare veya kaçak ışık parazitine neden olmaz.

(4) Sağlam ve Dayanıklı: Ölçekli film katmanı alt tabakaya sıkı bir şekilde bağlanmıştır; yüksek sürtünme direnci ve çevresel uyarlanabilirlik özelliklerine sahip olup laboratuvarlarda ve endüstriyel ortamlarda uzun süreli kullanım için uygundur.

2. Uygulama Alanları

(1) Optik Alet Kalibrasyonu ve Hizalama: Optik eksen kalibrasyonu ve görüş alanı merkez konumlandırması için bir referans olarak mikroskoplarda, teleskoplarda, teodolitlerde ve fotoelektrik kolimatörlerde yaygın şekilde kullanılır.

(2) Endüstriyel Makine Görüsü ve Ölçüm: Otomatik görsel inceleme ekipmanlarında, hassas konumlandırmaya ve boyutsal ölçüme yardımcı olmak için optik bir koordinat sistemi veya artı kılı referans noktası görevi görür.

(3) Lazer ve Optoelektronik Mühendisliği: Laboratuvar optik yol kurulumunda, ışın yolunu ve konumunu ayarlamaya yardımcı olmak amacıyla uzamsal bir referans çizgisi olarak kullanılır.