Yüksek hassasiyetli Oktaedral Düzensiz Şekilli Kalibrasyon Plağı

Oktahedral düzensiz şekilli kalibrasyon plakası, makine görüşü, 3B görüş, kamera kalibrasyonu ve çoklu görünüm görüntüleme sistemlerinde kullanılan özel bir kalibrasyon aracıdır. Ana gövdesi oktahedral veya çok yüzlü düzensiz bir yapı benimser ve farklı yüzeylere yerleştirilmiş, net geometrik özelliklere sahip dairesel desenler, özellik noktaları veya kodlu işaretler bulunur. Çoklu bakış açılarına sahip kameralar için kararlı ve güvenilir bir uzamsal geometrik referans sağlayabilir. Geleneksel düz kalibrasyon plakalarıyla karşılaştırıldığında, oktahedral düzensiz şekilli kalibrasyon plakası, çoklu düzlem, çoklu açı ve üç boyutlu uzamsal dağılım özelliklerine sahiptir ve farklı yönlerdeki özellik bilgilerini aynı anda sağlayabilir. Kamera iç ve dış parametre kalibrasyonu, kameralar arası konumsal ilişki kalibrasyonu ve çoklu kamera koordinat sistemi dönüşümü gibi uygulamalar için uygundur.

1. Ana Özellikler

(1) Üç boyutlu çok yüzlü yapı: Farklı yönlerde birden fazla kalibrasyon yüzeyini kapsar, uzamsal özellik kapsamını iyileştirir.

(2) Yüksek hassasiyetli özellik noktaları: Kalibrasyon referansının doğruluğunu sağlamak için hassas işleme ve yüksek hassasiyetli desenlerle üretilmiştir.

(3) Çoklu görünüm uygulanabilirliği: Binoküler, trinoküler ve çoklu kamera görüş sistemlerinin ortak kalibrasyonu için uygundur.

(4) Güçlü uzamsal konumlandırma yeteneği: Kararlı bir üç boyutlu koordinat referansı oluşturabilir, uzamsal ölçüm ve tutum hesaplaması için bir ölçüt sağlar.

(5) Kararlı yapı: Yüksek derecede kararlı bir taban malzemesi ve hassas montaj süreci benimser, sıcaklık, titreşim ve uzun süreli kullanımdan kaynaklanan geometrik hataları azaltır.

2. Uygulama Alanları

Makine görüşü, 3B görüş, robot görüşü, otonom sürüş algısı, fotogrametri ve diğer alanlarda yaygın olarak kullanılır. Tipik uygulamalar arasında kamera iç parametre kalibrasyonu, dış parametre kalibrasyonu, çoklu kamera ortak kalibrasyonu, 3B yeniden yapılandırma, koordinat sistemi dönüşümü ve görüş ölçüm sistemlerinin doğruluk doğrulaması yer alır.