Cross-type Micrometer Reticle High Precision Quartz Glass Reticle Fotolithografie Reticle

Een kruisdraadmicrometer (doorgaans gebruikt als onderdeel van een transmissiereticle of een stage/oculairmicrometer) is een optische meetstandaard met hoge precisie. Het maakt gebruik van hoogwaardig optisch glas als substraat, met duidelijke kruisdraden en micron-niveau gradaties die met ultra-precisie microfabricagetechnologie op het oppervlak zijn geëtst. Door het in het optische pad van een microscoop te plaatsen (bijvoorbeeld in het oculair of op de objecttafel), maakt het nauwkeurige positionering, uitlijning en dimensionale meting van minuscule objecten mogelijk.

1. Productkenmerken:

(1) Hoge precisie en hoge resolutie: Door gebruik te maken van micron-niveau vacuümcoating of fotolithografie, zijn de lijnen extreem fijn, uniform en hebben ze duidelijke randen, wat voldoet aan de strenge meetvereisten van microscopen met hoge vergroting.

(2) Uitstekende transmissie: Het substraatglas heeft een hoge transmissie, wat resulteert in een heldere beeldvorming zonder het oorspronkelijke optische gezichtsveld en contrast van de microscoop te beïnvloeden.

(3) Sterke slijtvastheid en stabiliteit: De gradatielaag is stevig gebonden aan het glassubstraat, is bestand tegen zuren en logen, en tegen slijtage, en behoudt nauwkeurigheid gedurende lange perioden in typische laboratorium- en industriële omgevingen.

(4) Goede compatibiliteit met standaarden: Diverse specificaties en maten, perfect aanpasbaar aan verschillende biologische microscopen, metallurgische microscopen en industriële meetmicroscopen.

2. Toepassingsgebieden

(1) Precisiefabricage en kwaliteitscontrole: Gebruikt voor microscopische dimensionale inspectie en beoordeling van oppervlaktefouten van elektronische componenten, micro-mechanische onderdelen en precisievormen.

(2) Biomedisch onderzoek: Gebruikt in de cytologie, pathologie en microbiologie om de microscopische geometrische afmetingen van cellen, bacteriën, micro-organismen en weefselcoupes te meten.

(3) Materiaalkunde: Gebruikt voor metallografische analyse van metalen materialen, het meten van korrelgrootte, de breedte van fasegrenzen en de lengte van microscheurtjes.

(4) Kalibratie van optische instrumenten: Gebruikt als een optische schaal om de vergroting en de pixel-equivalentie van microscoopoculairmicrometers en diverse beeldmeetsystemen te kalibreren.