Çapraz Tip Mikrometre Izgarası Yüksek Hassasiyetli Kuvars Cam Izgara Fotolitografi Izgarası
Çapraz Tip Mikrometre Izgarası kuvars cam
,Yüksek Hassasiyetli Fotolitografi Izgarası
,Kuvars Cam Kalibrasyon Plakası
Bir çapraz saç mikrometresi (tipik olarak bir transmisyon retikülünün veya sahne/oküler mikrometrenin bir parçası olarak kullanılır), yüksek hassasiyetli bir optik ölçüm standardıdır. Yüksek kaliteli optik camı alt tabaka olarak kullanır, yüzeyine ultra hassas mikroüretim teknolojisi kullanılarak net çapraz saçlar ve mikron düzeyinde derecelendirmeler kazınmıştır. Mikroskopun optik yoluna (örneğin oküler içine veya sahneye) yerleştirilerek, küçük nesnelerin hassas konumlandırılmasına, hizalanmasına ve boyutsal ölçümüne olanak tanır.
1. Ürün Özellikleri:
(1) Yüksek Hassasiyet ve Yüksek Çözünürlük: Mikron düzeyinde vakum kaplama veya litografi kullanılarak, çizgiler son derece ince, üniform ve net kenarlara sahiptir, bu da yüksek büyütmeli mikroskopların sıkı ölçüm gereksinimlerini karşılar.
(2) Mükemmel Işık Geçirgenliği: Alt tabaka camı yüksek ışık geçirgenliğine sahiptir, bu da mikroskobun orijinal optik görüş alanını ve kontrastını etkilemeden net görüntüleme sağlar.
(3) Güçlü Aşınma Direnci ve Kararlılık: Derecelendirme katmanı cam alt tabakaya sıkıca yapışmıştır, asitlere ve alkalilere karşı dayanıklıdır ve aşınmaya karşı dirençlidir, tipik laboratuvar ve endüstriyel ortamlarda uzun süre doğruluk sağlar.
(4) İyi Standart Uyumluluğu: Çeşitli özellikler ve boyutlar, çeşitli biyolojik mikroskoplar, metalografik mikroskoplar ve endüstriyel ölçüm mikroskopları ile mükemmel uyumluluk sağlar.
2. Uygulama Alanları
(1) Hassas Üretim ve Kalite Kontrol: Elektronik bileşenlerin, mikro-mekanik parçaların ve hassas kalıpların mikroskobik boyutsal denetimi ve yüzey kusuru değerlendirmesi için kullanılır.
(2) Biyomedikal Araştırma: Sitooloji, patoloji ve mikrobiyolojide hücrelerin, bakterilerin, mikroorganizmaların ve doku kesitlerinin mikroskobik geometrik boyutlarını ölçmek için kullanılır.
(3) Malzeme Bilimi: Metalik malzemelerin metalografik analizi, tane boyutu, faz sınırı genişliği ve mikro çatlak uzunluğu ölçümü için kullanılır.
(4) Optik Cihaz Kalibrasyonu: Mikroskop oküler mikrometrelerinin ve çeşitli görüntü ölçüm sistemlerinin büyütme ve piksel eşdeğerini kalibre etmek için optik ölçek olarak kullanılır.