Yüksek Hassasiyetli Kuvars Cam İletki Retikülü Fotolitografi Retikülü

Bir iletki retikülü, açı ölçümünü optik retikül teknolojisiyle birleştiren yüksek hassasiyetli bir optik ölçüm bileşenidir. Genellikle yüksek saflıkta optik cam, kuvars veya şeffaf bir polimer filmden yapılır ve mikro işleme teknikleri kullanılarak yüzeyine hassas açılar, çizgiler veya ızgara desenleri kazınır.

1. Ürün Özellikleri

(1) Yüksek Hassasiyetli Retikül

Retikül çizgileri, ölçekleri ve desenleri hassas boyutludur, düzgün ve net çizgilere sahiptir.

Retikül aralığı ve çizgi genişliği, farklı ölçüm doğruluğu gereksinimlerini karşılamak üzere özelleştirilebilir.

(2) Zengin Desen Türleri

İşaret çizgileri, ölçek çizgileri, ızgaralar, halkalar, eş merkezli daireler ve açı çizgileri dahil olmak üzere çeşitli desenler oluşturulabilir.

Retikül desenleri, aletin kullanım amacına göre tasarlanabilir.

(3) Mükemmel Optik Performans

Optik sınıf cam ve diğer alt tabakalar kullanılarak iyi ışık geçirgenliği ve düzlük sağlar.

Retikül kenarları nettir, görüş alanına olan etkiyi en aza indirir.

(4) Net Çizgiler ve Yüksek Kontrast

Retikül deseni, arka planla iyi bir kontrasta sahiptir, gözlemi ve tanımlamayı kolaylaştırır.

Kullanım ortamına göre farklı renkler veya farklı geçirgenlik/yansıtma etkileri seçilebilir.

(5) Esnek Boyut Özellikleri

Alet yapısına göre farklı çaplar, kalınlıklar ve dış boyutlar sağlanabilir.

Dairesel, kare ve özel düzensiz şekilli retikülleri destekler.

(6) Yüksek Özelleştirme

Müşteri tarafından sağlanan çizimlere, örneklere veya teknik parametrelere göre özelleştirme mümkündür.

Özelleştirilebilir ölçek değerleri, mezuniyet değerleri, çizgi genişlikleri, desenler, konumsal doğruluk ve işaretleme içeriği.

(7) İyi Stabilite

Alt tabaka ve işleme teknolojisinin doğru seçimi ile uzun süreli kullanım gereksinimlerini karşılayabilir.

Laboratuvar, endüstriyel test ve hassas optik alet senaryoları için uygundur.

2. Ana Uygulama Alanları

Benzersiz açı ve doğrusal ölçüm yetenekleri sayesinde iletki retikülü birçok sektörde yaygın olarak kullanılmaktadır:

(1) Optik Ölçüm ve Endüstriyel Muayene: Mikroskop altında mikro parçaların, elektronik bileşenlerin ve kesici takım kenarlarının geometrik açılarını ve pah açılarını ölçmek için kullanılır.

(2) Belge tanımlama ve adli bilimler: Parmak izi desenlerinin, belge el yazısı sapma açılarının, pasaport sahteciliğiyle mücadele işaretlerinin vb. mikroskobik analizinde suç soruşturma laboratuvarlarında ve belge incelemesinde yaygın olarak kullanılır.

(3) Bilimsel araştırma ve eğitim: Kristal yapıları, hücre bölünmesi açılarını veya mikroskobik morfolojik özellikleri ölçmek için biyoloji ve malzeme bilimi gibi alanlarda kullanılır.

3. Ana Parametre Bilgileri