مشبک پروترکتور شیشه کوارتز با دقت بالا - مشبک فوتولیتوگرافی
رتیکل نقاله شیشه کوارتز
,صفحه کالیبراسیون رتیکل فوتولیتوگرافی
,رتیکل کوارتز با دقت بالا
یک رتیکول پروترکتور یک قطعه اندازه گیری نوری با دقت بالا است که اندازه گیری زاویه را با فناوری رتیکول نوری ترکیب می کند. این قطعه معمولاً از شیشه نوری با خلوص بالا، کوارتز،یا یک فیلم پلیمر شفاف، با زاویه های دقیق، خطوط یا الگوهای شبکه بر روی سطح آن با استفاده از تکنیک های میکرو ماشینکاری.
1ویژگی های محصول
(۱) رتیکل با دقت بالا
خطوط شبکیه، مقیاس ها و الگوها با اندازه دقیق و خطوط یکنواخت و شفاف هستند.
فاصله شبکیه و عرض خط را می توان برای پاسخگویی به الزامات مختلف دقت اندازه گیری سفارشی کرد.
(2) انواع متنوع الگویی
الگوهای مختلفی می تواند ایجاد شود، از جمله خطوط تقاطع، خطوط مقیاس، شبکه ها، حلقه ها، دایره های متمرکز و خطوط زاویه ای.
الگوهای شبکه ای سفارشی را می توان با توجه به استفاده مورد نظر ابزار طراحی کرد.
(3) عملکرد نوری عالی
با استفاده از شیشه ای با کیفیت نوری و سایر زیربناها، دارای انتقال نور و صافی خوب است.
لبه هاي شبكه شفاف هستند تا تا حد ممكن بر روي ميدان ديد اثر بگذارند.
(4) خطوط روشن و کنتراست بالا
الگوی شبکیه با پس زمینه کنتراست خوبی دارد که مشاهده و شناسایی آن را آسان می کند.
رنگ های مختلف یا اثرات مختلف انتقال/انعکاس شبکیه را می توان با توجه به محیط استفاده انتخاب کرد.
(5) مشخصات اندازه انعطاف پذیر
قطر، ضخامت و ابعاد خارجی مختلف را می توان با توجه به ساختار ابزار فراهم کرد.
از شبکه های دایره ای، مربع و خاص شکل نامنظم پشتیبانی می کند.
(6) سفارشی سازی بالا
سفارشی سازی بر اساس نقشه ها، نمونه ها یا پارامترهای فنی ارائه شده توسط مشتری امکان پذیر است.
مقادیر مقیاس قابل تنظیم، مقادیر درجه بندی، عرض خط، الگوها، دقت موقعیت و محتوای علامت گذاری.
(7) ثبات خوب
با انتخاب مناسب بستر و تکنولوژی پردازش، می تواند نیازهای استفاده طولانی مدت را برآورده کند.
مناسب برای آزمایش آزمایشگاهی، آزمایش صنعتی و سناریوهای ابزار عینک دقیق.
2حوزه های اصلی کاربرد
به دلیل زاویه منحصر به فرد و قابلیت های اندازه گیری خطی، شبکه پروترکتور به طور گسترده ای در بسیاری از صنایع استفاده می شود:
(1) اندازه گیری نوری و بازرسی صنعتی:استفاده می شود برای اندازه گیری زاویه های هندسی و زاویه های منحنی میکرو قطعات، اجزای الکترونیکی و لبه های ابزار برش تحت میکروسکوپ.
(2) شناسايي اسناد و علوم قضايي:معمولاً در آزمايشگاه هاي تحقيقات جنايي و بررسي اسناد براي بررسي ميکروسکوپي الگوهاي اثر انگشت، زاويه انحرافي خط دستي اسناد استفاده مي شودعلامت های ضد جعل در گذرنامه، و غیره
(3) تحقیقات علمی و آموزش:در زمینه هایی مانند زیست شناسی و علوم مواد برای اندازه گیری ساختار کریستالی، زاویه های تقسیم سلول یا ویژگی های مورفولوژیکی میکروسکوپی استفاده می شود.
3اطلاعات پارامتر اصلی
|
اطلاعات پارامتر |
دقت عادی |
دقت بالا |
|
مواد |
شیشه سودا/گلاس کوارتز/تخصیص |
شیشه کوارتز |
|
حداکثر ابعاد بیرونی |
ضخامت مرتبط/228.6*228.6mm |
۱۲۷*۱۲۷ میلی متر |
|
حداقل ابعاد بیرونی |
1*1mm |
2*2 میلی متر |
|
حداکثر اندازه الگوی |
مربوط به ضخامت 218.6*218.6/280*280 میلی متر |
۱۲۱*۱۲۱ میلی متر |
|
سطح |
اندازه مرتبط/معمولی 10 μm |
مربوط به اندازه |
|
ارزش تراکم |
کروم زرد و کروم روشن به طور کلی ≥ 3.0/حداکثر ≥ 6 هستند.0; کروم آبی ≥ 50 |
/ |
|
ضخامت (قابل تنظیم) |
0.2/0.33/0.5/0.7/1/1.1/1.5/1.6/2.3/3mm |
2.3 میلی متر |
|
دقت موقعیت |
2 μm/حداکثر 1 μm |
0.5μm |
|
دقت عرض خط |
0.2 μm/حداکثر 0.1 μm |
0.05μm |
|
حداقل عرض خط |
2 μm/حداکثر 1 μm |
0.5μm |
|
حداقل قطر |
2 μm/حداکثر 1 μm |
0.5μm |