Tabella di calibrazione per scacchiere a infrarossi vicino per telecamere e sensori NIR

Scheda di calibrazione nel vicino infrarosso

La scheda di calibrazione a scacchiera nel vicino infrarosso è progettata specificamente per telecamere e sensori nel vicino infrarosso (NIR). Utilizzando una speciale formula di rivestimento, è stato risolto il problema della perdita di contrasto o del riflesso non uniforme delle normali piastre di posizionamento del cursore visibile nella banda del vicino infrarosso, garantendo che i punti d'angolo della scacchiera mantengano ancora bordi nitidi sotto sorgenti luminose nel vicino infrarosso. È adatta per la calibrazione visiva in varie scene a infrarossi attivi, visione notturna e filtri.

Caratteristiche del prodotto: Introdotta attrezzatura di micro-spruzzatura ad alta precisione dagli Stati Uniti, rivestimenti ad alte prestazioni sviluppati in modo indipendente, in grado di raggiungere 850-940 nm, riflettività con un errore di ± 0,5%, superando di gran lunga gli standard del settore. Supporta la fusione multi-riflettività, possedendo al contempo elevata uniformità e durata.
1. Principio di funzionamento:
Adottando una tecnologia di rivestimento superficiale sviluppata in modo indipendente, vengono formati schemi a scacchiera stabili ad alto contrasto sotto l'irradiazione di una sorgente luminosa nel vicino infrarosso. L'algoritmo estrae punti d'angolo sub-pixel all'intersezione delle griglie bianche e nere, stabilisce una relazione di mappatura tra il sistema di coordinate dell'immagine e il sistema di coordinate del mondo, e calcola i parametri interni e i coefficienti di distorsione della telecamera nello spettro del vicino infrarosso, eliminando le aberrazioni e gli angoli bui unici degli obiettivi nel vicino infrarosso.
2. Ambito di applicazione principale:
Calibrazione di telecamere industriali nel vicino infrarosso, calibrazione di sistemi di visione notturna per la guida intelligente, sistemi di visione per la selezione agricola e alimentare, ispezione di confezionamento di semiconduttori e calibrazione di fusione di LiDAR e telecamere.