Tablero de calibración de ajedrez OpenCV Materiales metálicos de vidrio
Tabla de calibración de tablero de ajedrez OpenCV
,Tabla de calibración de tablero de ajedrez de vidrio
,Tabla de calibración de metales
Tablero de Calibración OpenCV
El tablero de calibración de tablero de ajedrez es una de las herramientas más utilizadas para la calibración de cámaras y sistemas de visión. Su patrón de cuadrados blancos y negros de alto contraste permite una detección precisa de las esquinas, lo que permite una estimación precisa de los parámetros intrínsecos y extrínsecos. Esto garantiza una corrección efectiva de la distorsión de la lente y una alineación confiable de sistemas multicámara o de cámara a robot. Fabricado con tolerancias estrictas en materiales duraderos como vidrio, metal o compuestos, el tablero proporciona una excelente estabilidad y repetibilidad. Compatible con bibliotecas de visión populares como OpenCV y Halcon, se aplica comúnmente en robótica, reconstrucción 3D, automatización industrial y aplicaciones de visión artificial que requieren alta precisión de calibración.
Características del producto:Esquinas de patrón claras, alta precisión, alto contraste/no reflectante, Alta precisión (con una precisión máxima de 1um), admite personalización diversificada
Escenarios aplicables:Calibración de visión artificial (seguridad, cine y televisión, medicina, cámaras, cámaras de drones, estudios de fotografía, instrumentos de investigación científica y otros equipos)
Material base:El material base del tablero de calibración de tablero de ajedrez es opcional, y se pueden personalizar diferentes materiales base (como vidrio, cerámica, película, placa de aluminio, etc.) según los diferentes escenarios de uso, entornos y requisitos de precisión.
1. Parámetros del sustrato de vidrio:
| Diseño |
Sustrato |
||
|
Proceso de fabricación |
Fotolitografía |
Sustrato de vidrio |
Vidrio de cuarzo (sílice fundida)/vidrio de sosa |
|
Ancho de línea mínimo |
1 µm / 0,55 µm |
Tasa de transmitancia (@550nm) |
>95% |
|
Precisión de características |
±1 µm |
Coeficiente de expansión térmica (20-200 °C) |
<5,0×10⁻⁷/K |
|
Recubrimiento |
Cromo amarillo, cromo brillante , cromo azul (baja reflectividad) |
Relación de expansión (20-200 °C) |
0,00006% (0,6 µm/°C de 1 m) |
|
Reflectancia |
< 13,4% @550nm |
Planitud de la superficie |
<0,55 µm (longitud<50 mm) |
|
< 1,8% @650nm |
<2 µm (longitud<100 mm) |
||
|
< 2,67% @750nm |
100 mm) |
||
|
Precisión del recubrimiento |
120 nm (±0,20 nm) |
Rugosidad de la superficie |
<0,025 µm |
|
Densidad óptica OD |
Cromo Amarillo 3 (Azul 5) |
Espesor |
1 mm, 1,6 mm, 2,3 mm, 3 mm (±0,2 mm) (500*500*4,8) |
|
Fondo blanco |
Ancho de línea mínimo: 10 µm |
Tamaño mínimo/máximo |
Mín: 2×2 mm |
|
Espesor del fondo blanco: 40 µm (recubrimiento blanco liso en la parte posterior) |
Máx: 800×960 mm (±0,1 mm) |
||
|
Formas positiva y negativa |
Positivo: patrón opaco Negativo: patrón translúcido |
Apariencia y forma |
Cuadrado |
2. Parámetros del sustrato cerámico:
|
Diseño |
Sustrato |
|||||
|
Proceso de fabricación |
Fotolitografía |
Tipo |
Cromo mate sobre cerámica mate |
Cromo brillante sobre cerámica brillante |
|
|
|
Tipo |
Cerámica mate |
Cerámica brillante |
Sustrato cerámico |
Zirconia / Alúmina |
||
|
Ancho de línea mínimo |
4 µm |
2 µm |
Espesor |
1 mm (±0,1 mm, común) |
2 mm (común) |
3 mm (±0,1 mm) |
|
Precisión de características |
±2 µm |
±2 µm |
Planitud de la superficie |
<30 µm (longitud<100 mm) |
<60 µm (longitud<200 mm) |
|
|
Precisión de apariencia |
±0,05 mm |
±0,05 mm |
Planitud de la superficie |
MÍN: 2×2 mm (±0,1 mm); MÁX: 228×228 mm (±0,1 mm) |
||
|
Recubrimiento |
Cromo |
Cromo |
Rugosidad de la superficie |
<0,2-0,7 µm |
||
|
Recubrimiento ligero/recubrimiento mate |
Recubrimiento de cromo mate |
Recubrimiento de cromo brillante |
Coeficiente de expansión térmica (40-400 °C) |
<6,7×10⁻⁶/K |
||
|
Reflectancia |
< 12,88% @550nm |
< 9,56% @550nm |
Peso unitario |
≥ 3,66 g/cm³ |
||
|
< 10,62% @650nm |
< 1,89% @650nm |
|||||
|
< 12,23% @750nm |
< 11,168% @750nm |
|||||
|
Espesor del recubrimiento |
100-120 nm |
100-120 nm |
Dureza Rockwell |
≥80 HRA |
||
|
Formas positiva y negativa |
Película positiva: patrón opaco, Película negativa: patrón transparente |
Apariencia y forma |
Corte por láser de cualquier forma |
Cuadrado |
Elipse |
|
|
Capa protectora |
La película delgada sobre la capa de cromo hace que el patrón de cromo sea más duradero |
Forma especial |
Perforación |
Bisel |
Ángulo oblicuo |
|
3. Parámetros del sustrato de película:
|
Diseño |
Sustrato de película |
||
|
Proceso de fabricación |
Litografía (Máquina de litografía de película) |
Aplicación |
Se utiliza para transmisión/retroiluminación /pruebas funcionales |
|
Ancho de línea mínimo |
10 µm/30 µm opcional |
Coeficiente de expansión |
La película se encoge al calentarse y se expande al enfriarse |
|
Precisión de características
|
±10 µm |
10 µm/°C de 1 m Cuando la temperatura relativa es constante,
Cuando la humedad cambia en 1 °C,
Una película de 1 m de longitud cambiará en 10 µm (una diezmilésima parte)
|
|
|
Recubrimiento |
Bromuro de plata |
Tasa de transmitancia (400~700nm) |
>90% ultravioletainfrarrojo |
|
Espesor del recubrimiento |
2 µm |
Espesor del sustrato de película |
0,18 mm (±0,01 mm) |
|
Densidad óptica OD |
OD>4 cuando es 100% negro
(Valor OD controlable en escala de grises)
|
Tamaño máximo |
0,71×0,81 m (±0,1 mm) (ancho de línea mínimo 10 µm) 1,68×3,5 m (±0,1 mm) (ancho de línea mínimo 30 µm) |
|
Color |
Escala de grises negra, escala de grises sinusoidal |
Apariencia |
Disponibles corte por láser, corte de borde recto y ahuecado de orificios circulares |