Placa de calibração Halcon Painel de calibração Honeycomb Largura mínima da linha 1μm / 0,55μm
Placa de Calibração em Favo de Mel
,Placa de Calibração Halcon 1µM
,Placa de Calibração Halcon 0.55µM
Placa de Calibração de Favo de Mel Halcon
A placa de calibração de pontos circulares é uma ferramenta de calibração de alta precisão projetada para sistemas ópticos, garantindo calibração ideal da câmera, correção de distorção da lente e avaliação de desempenho do sistema. Fabricada com tecnologia avançada de fotolitografia, oferece precisão excepcional com resolução em nível de mícron, tornando-a ideal para sistemas de imagem de alta resolução e aplicações microscópicas. Seu material durável e resistente ao calor garante estabilidade a longo prazo, e o padrão preciso de pontos garante uniformidade em toda a placa, proporcionando resultados de calibração confiáveis. Esta placa é totalmente personalizável para atender a diversas necessidades de calibração, tornando-a perfeita para câmeras industriais, robótica e sistemas de visão automatizada.
Recursos do produto: bordas nítidas, alta precisão posicional, baixo coeficiente de expansão, Alta precisão (com precisão máxima de 1um) e suporte de personalização.
Cenários aplicáveis: Calibração de visão computacional (segurança, cinema e televisão, médico, câmera, câmera de drone, estúdio de fotografia, instrumentos de pesquisa científica e outros equipamentos).
Material base: O material base da placa de calibração de pontos é opcional, e diferentes materiais base (como vidro, cerâmica, filme, placa de alumínio, etc.) podem ser personalizados de acordo com diferentes cenários de uso, ambientes e requisitos de precisão.
1. Parâmetros do substrato de vidro:
| Projeto |
Substrato |
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Processo de Fabricação |
Fotolitografia |
Substrato de vidro |
Vidro de quartzo (sílica fundida)/vidro de soda |
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Largura mínima da linha |
1µm / 0,55µm |
Taxa de transmitância (@550nm) |
>95% |
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Precisão do recurso |
±1µm |
Coeficiente de expansão térmica (20-200°C) |
<5,0×10⁻⁷/K |
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Revestimento |
Cromo amarelo, cromo brilhante , cromo azul (baixa refletividade) |
Razão de expansão (20-200°C) |
0,00006% (0,6µm/°C de 1m) |
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Reflexão |
< 13,4% @550nm |
Planicidade da superfície |
<0,55µm (comprimento<50mm) |
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< 1,8% @650nm |
<2µm (comprimento<100mm) |
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< 2,67% @750nm |
100mm) |
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Precisão do revestimento |
120nm (±0,20nm) |
Rugosidade da superfície |
<0,025µm |
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Densidade óptica OD |
Cromo Amarelo 3 (Azul 5) |
Espessura |
1mm,1,6mm,2,3mm,3mm(±0,2mm)(500*500*4,8) |
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Fundo branco |
Largura mínima da linha: 10µm |
Tamanho mínimo/máximo |
Mín: 2×2 mm |
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Espessura do fundo branco: 40 µm (revestimento branco liso no verso) |
Máx: 800×960mm (±0,1mm) |
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Formas positiva e negativa |
Positivo: padrão opaco Negativo: padrão translúcido |
Aparência e forma |
Quadrado |
2. Parâmetros do substrato cerâmico:
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Projeto |
Substrato |
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Processo de Fabricação |
Fotolitografia |
Tipo |
Cromo fosco em cerâmica fosca |
Cromo brilhante em cerâmica brilhante |
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Tipo |
Cerâmica fosca |
Cerâmica brilhante |
Substrato cerâmico |
Zircônia / Alumina |
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Largura mínima da linha |
4µm |
2µm |
Espessura |
1mm (±0,1mm, comum) |
2mm (comum) |
3mm (±0,1mm) |
|
Precisão do recurso |
±2µm |
±2µm |
Planicidade da superfície |
<30µm (comprimento<100mm) |
<60µm (comprimento<200mm) |
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Precisão da aparência |
±0,05mm |
±0,05mm |
Planicidade da superfície |
MÍN: 2×2mm (±0,1mm); MÁX: 228×228mm (±0,1mm) |
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Revestimento |
Cromo |
Cromo |
Rugosidade da superfície |
<0,2-0,7µm |
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Revestimento claro/revestimento fosco |
Revestimento de cromo fosco |
Revestimento de cromo brilhante |
Coeficiente de expansão térmica (40-400°C) |
<6,7×10⁻⁶/K |
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Reflexão |
< 12,88% @550nm |
< 9,56% @550nm |
Peso unitário |
≥ 3,66 g/cm³ |
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< 10,62% @650nm |
< 1,89% @650nm |
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< 12,23% @750nm |
< 11,168% @750nm |
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Espessura do revestimento |
100-120nm |
100-120nm |
Dureza Rockwell |
≥80 HRA |
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Formas positiva e negativa |
Filme positivo: padrão opaco, Filme negativo: padrão transparente |
Aparência e forma |
Corte a laser de qualquer forma |
Quadrado |
Elipse |
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Camada protetora |
A película fina acima da camada de cromo torna o padrão de cromo mais durável |
Forma especial |
Punção |
Chanfro |
Ângulo oblíquo |
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3. Parâmetros do substrato de filme:
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Projeto |
Substrato de filme |
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Processo de Fabricação |
Litografia (Máquina de Litografia de Filme) |
Aplicação |
Usado para transmissão/luz de fundo /teste funcional |
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Largura mínima da linha |
10 µm/30 µm opcional |
Coeficiente de expansão |
O filme encolhe quando aquecido e expande quando resfriado |
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Precisão do recurso
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±10µm |
10µm/°C de 1m Quando a temperatura relativa é constante,
Quando a umidade muda em 1 °C,
Um filme com 1m de comprimento mudará 10 µm (um décimo de milésimo)
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Revestimento |
Brometo de prata |
Taxa de transmitância (400~700nm) |
>90% ultravioletainfravermelho |
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Espessura do revestimento |
2µm |
Espessura do substrato de filme |
0,18mm (±0,01mm) |
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Densidade óptica OD |
OD>4 quando 100% preto
(valor OD controlável em escala de cinza)
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Tamanho máximo |
0,71×0,81m (±0,1mm)(largura mínima da linha 10µm) 1,68×3,5m (±0,1mm)(largura mínima da linha 30µm) |
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Cor |
Escala de cinza preta, escala de cinza senoidal |
Aparência |
Corte a laser, corte de borda reta e esvaziamento de orifício circular estão disponíveis |